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                新品 HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析登录仪

                核心参数

                • 产地类别 进口
                • 测量时间2min
                • 分辨率
                • 测量范围0.3nm ~ 10μm
                • 重现性+-2%
                • 分散方式 湿法分散
                • 仪器种类 动态光散射

                HORIBA 科学仪器事业部

                • 营业执照已审核
                • 品牌性质生产商
                • 白金会员第18年
                • 信用积分4251
                • 反馈速度21-24小时
                • 同类仪器3台
                400-860-3611 五分pk10走势认证,请放心拨app打
                HORIBA SZ-100 V2 纳米注册颗粒分析仪 创新点 产品介绍 相关新闻 用户评论

                创新点

                SZ-100V2采用动态光散射测量颗粒粒径,SZ-100V2采用绿色激光光◆源,能获得比红色激光更强的信号强度。它具有双角度检测器∩,能满足不同→浓度样品的测试需求,PD检规律测器可检测样品浓度,从而选择开奖最合适的检测器。SZ-100V2对粒径①的测量范围在0.3纳米到10微米。SZ-100V2对Zeta电位的↙测量范围在-500mV到500mV。Zeta电规律位可判断样品的稳定性,对配方研究工作意义重大。此外ㄨ可配置〒pH自动滴卐定仪,获得样品的等电点。SZ-100V2对分子量安卓版的测量范围在1000到2000万之间。仪器广泛应用于金平台属材料、高分子材料、碳纳米管、蛋白质等生物样品█的测量分析。

                上市时间:2018年10月

                产品介绍

                SZ-100 V2 纳米颗技巧粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分→析工具,如颗↓粒粒径、zeta电位@ 的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数☆(A2)的测定;还可以用于№检测蛋白质、聚合物及其他大分子的∑分子量和第二维利系数。


                SZ-100 V2纳登陆米颗粒分析仪典型应用平台包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


                产品特点


                ·  同台仪器可测】三种参数——粒度、zeta电位、分子量及ios版第二维利系数

                ·  宽检▲测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

                ·  自动ζ 滴定仪——可用于zeta电位测量过程〖中pH值的自动滴定

                ·  软件操作简单功能强大邀请码,一键测量

                ·  双光路双角度粒径测◆量(90° 和173°)

                ·  采用微量样品池


                技术参数


                粒径测量原理:动态光散ζ射法(光子相关光谱法『)

                粒径测定范围:0.3nm ~10μm

                粒径▽测量精度:±2%(NIST 可溯源标∩准粒子100nm)

                Zeta 电位测量原理◎:激光♀多普勒电泳法

                Zeta 电位测量开奖范围:-500 mV ~ +500 mV

                分走势子量测量原理:Debye plot

                分子量测量范●围:1000 ~ 2×107 Da

                测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

                样品量:12μL ~ 1000μL

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                • 超声波清洗器 |
                • 在线粒度仪

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